Super X-Ray Areal Pengukuran Kapadhetan Gauge

Aplikasi

Pangukuran bisa adaptasi kanggo luwih saka 1600 mm jembaré lapisan. Ndhukung pemindaian kacepetan ultra-dhuwur.

Fitur cilik kayata area tipis, goresan, pojok keramik bisa dideteksi.

Detail Produk

Tag produk

Prinsip pangukuran

Nalika sinar irradiates elektroda, sinar bakal digunakke, dibayangke lan kasebar dening elektroda, asil ing attenuasi tartamtu saka kakiyatan ray sawise elektroda ditularaké relatif kanggo intensitas sinar kedadean, lan rasio atenuasi iku negatif exponential karo bobot utawa Kapadhetan areal saka elektroda.

I=I_0 e^−λm⇒m= 1/λln(I_0/I)

I_0 : Intensitas sinar awal

I: Intensitas sinar sawise ngirim elektroda

λ : Koefisien serapan obyek sing diukur

m : Ketebalan / kerapatan areal obyek sing diukur

Sorotan peralatan

Perbandingan sensor semikonduktor lan pangukuran sensor laser

● Pangukuran garis rinci lan fitur: resolusi spasial millimeter ukuran garis Kapadhetan area kanthi kacepetan dhuwur lan presisi dhuwur (60 m/min)

● Ultra jembaré pangukuran: adaptable kanggo luwih saka 1600 mm jembaré lapisan.

● Ultra dhuwur kacepetan mindhai: luwes kacepetan mindhai saka 0-60 m/min.

● Inovatif semikonduktor ray detector kanggo pangukuran elektroda: 10 kaping respon luwih cepet saka solusi tradisional.

● Didorong dening motor linear kanthi kacepetan dhuwur lan presisi dhuwur: kacepetan mindhai tambah kaping 3-4 dibandhingake karo solusi tradisional.

● Sirkuit pangukuran kacepetan dhuwur sing dikembangake dhewe: frekuensi sampling nganti 200kHZ, ningkatake efisiensi lan akurasi lapisan loop tertutup.

● Pitungan mundhut kapasitas thinning: jembaré titik bisa nganti 1 mm cilik. Bisa kanthi akurat ngukur fitur rinci kayata njelaske nganggo bentuk garis area tipis pinggiran lan goresan ing lapisan elektroda.

Antarmuka piranti lunak

Tampilan antarmuka utama sistem pangukuran sing bisa disesuaikan

● Penentuan area thinning

● Kapasitas panentu

● Tekad ngeruk

Parameter teknis

Item	Parameter
Proteksi radiasi	Dosis radiasi 100mm saka permukaan peralatan kurang saka 1μsv / h
Kacepetan mindhai	0-60m / min luwes
Frekuensi sampel	200k Hz
Wektu nanggapi	<0,1 ms
Range pengukuran	10-1000 g/㎡
Jembaré titik	1mm, 3mm, 6mm opsional
Akurasi pangukuran	P/T≤10%Integral ing 16 detik:±2σ:≤±nilai bener×0.2‰ utawa ±0.06g/㎡; ± 3σ: ≤ ± nilai bener×0,25‰ utawa ±0,08g/㎡;Integral ing 4 detik:±2σ:≤±nilai bener×0.4‰ utawa ±0.12g/㎡; ± 3σ: ≤ ± nilai bener× 0,6 ‰ utawa ± 0,18g/㎡;